氣密性測試時測試結(jié)果顯示負值原因以及排除方法
測漏值出現(xiàn)負值主要可能原因有以下幾個：
1． 被測工件比標準工件密封性還要好
氣密性測試顯示的泄漏率（一般為 CC/min）。直壓法和差壓法的氣密性測試顯示泄漏率前需要 對儀器進行補償和校準。也就是接無泄漏標準工件找系統(tǒng)零點（這個過程有的氣密性儀器生產(chǎn)廠家稱作系統(tǒng)零點校準，有的儀器成為系統(tǒng)歸零 (offset）和將固定漏率的漏口接入這個無泄漏工件的系統(tǒng)后，測試結(jié)果和固定漏率的漏口數(shù)值需要對應(yīng)的參數(shù)值（這個過程有的測 漏儀廠家稱為標定容積，有的測漏儀器稱為校準過程）。
因此氣密性測試儀生產(chǎn)廠家通常會要求客戶提供無泄漏的標準工件。標準工件很重要，應(yīng)該是選取幾乎不漏氣的工件。測試前將此工件和管路夾具系統(tǒng)補償為 0 值（即使不漏的工件和管路夾 具系統(tǒng)也肯定有壓力變化，參考下圖中 Non－leak 曲線，可以看出測試階段總是有點壓力衰減）。
如果測試過程中有被測工件比選定的標準工件還要好（壓力衰減比選定不泄漏標準樣件 還小），因為我們之前把無泄漏標準工件的泄漏率標為 0cc/min，那么這個被測工件的泄漏率 就顯示為負值。
建議:
方博科技(深圳)有限公司推薦盡可能的挑選漏的最小的標準件。
2．周圍環(huán)境溫度變化。
周圍環(huán)境溫度指：氣密性測試儀周邊溫度的改變。或者是測試工件本身溫度改變?；蛘呤菤饷苄詼y試儀到被測工件管路溫度改變。
溫度的變化影響測試泄漏率的值。如果測試工件夾具等條件不變，溫度升高導(dǎo)致了氣體膨脹，膨脹的氣體導(dǎo)致了壓力變化減小，測試值比原來值就小，如果被測工件密封性較好這時就有可能出現(xiàn)負值（如上圖 stablization 階段后 pressure decay 階段時候溫度影響了曲線，導(dǎo)致測試結(jié)果變化）。
建議：
一天中間早中晚外界可能都會有較大的溫度變化，方博科技(深圳)有限公司建議,測試儀器最好先熱機十分鐘后再做補償校準，或者在中午時候做校驗。盡量保持氣密性測試儀和工件溫度與環(huán)境溫度保持一致。密封檢測儀
3．產(chǎn)品容積的改變。 被測產(chǎn)品的容積可能會發(fā)生改變，實際測試過程中我們發(fā)現(xiàn)過，在測試產(chǎn)品時，客戶誤將產(chǎn)品貼紙遺漏在工裝夾具內(nèi)，導(dǎo)致容積變小。當(dāng)時測試值出現(xiàn)了較大的負值。容積突然改變可能引起測試結(jié)果變小，出現(xiàn)負值。
建議：
方博科技(深圳)有限公司建議注意觀測被測產(chǎn)品和 master（標準）工 件容積是否等同。
4．夾具以及管路的形變。 夾具以及管路如果有形變可能導(dǎo)致整個測試容積變化。也可能導(dǎo)致測試結(jié)果出現(xiàn)負值。
比方說，在測試過程中，工件和管路本身都沒有泄漏，但是此時夾具封堵膠皮發(fā)生蠕變，蠕變導(dǎo)致了連接到工件的管路內(nèi)部壓力上升，此時可能產(chǎn)生負值。
建議：
方博科技(深圳)有限公司建議更換夾具封堵或者采用硬質(zhì)不容易產(chǎn)生形變的管路。
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